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表面分析
太陽能/半導體
通用儀器耗材及檢測服務
反射膜厚儀是一種非接觸式、快速的光學薄膜厚度測量技術。
MProbe Vis薄膜測厚儀對大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。
MProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。
采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域
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