更新時間：2020-08-12
產品品牌：Semiconsoft
產品型號：MProbe UVVisSR
MProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
該機大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
測量范圍: 1 nm -50um
波長范圍: 200 nm -1000 nm
MProbe UVVisSR薄膜測厚儀適用于實時在線測量，多層測量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。
測量指標：薄膜厚度，光學常數
界面友好: 一鍵式測量和分析。
實用的工具：曲線擬合和靈敏度分析，背景和變形校正，連接層和材料，多樣品測量，動態測量和產線批量處理。
（MProble NIR薄膜測厚儀系統示 ）
案例1，73nm SiN氮化硅薄膜的測量
硅晶圓反射率，測量時間10ms
使用Tauc-Lorentz模型，測量SiN薄膜的n和k值
電話：86-021-37018108
傳真：86-021-57656381
郵箱：info@boyuesh.com
地址：上海市松江區莘磚公路518號松江高科技園區28幢301室
